Il misuratore di spessore del rivestimento XRF è basato sulla tecnologia di analisi della spettroscopia a fluorescenza a raggi X, che è stata ampiamente riconosciuta e applicata. Può fornire analisi facile da usare, veloce e non distruttiva senza la necessità di preparazione del campione. Può analizzare solidi e liquidi, con intervalli di elementi che vanno da 14Si a 92U nella tavola periodica.
MAXXI 6 offre soluzioni superiori per campioni più sottili e complessi. Il MAXXI 6 è dotato di un sistema multi collimatore e di un'ampia camera di campionamento, rendendolo uno strumento ideale che combina eccellente funzionalità e alta precisione di rilevamento.

Analizza il numero di livelli ed elementi

• Personalizzazione (all'interno dell'ambito degli elementi)

Struttura di rivestimento personalizzata, compreso il rivestimento in lega

Eccitazione a raggi X

• 50 kV, Generatore ad alta tensione 1.2 mA (60 W)

Micro messa a fuoco della finestra W tubo del raggio di destinazione dell'anodo (Mo tubo del raggio di destinazione dell'anodo è opzionale)

rivelatore

Rilevatore SDD da 25 mm2 con raffreddamento elettrico Peltier

• Risoluzione energetica di 140 eV (FWHM per MnK α)

Foglio luce verde una volta (accessorio opzionale)

Fino a 5 posizioni possono commutare automaticamente il filtro una volta

Collimatore

Collimatore singolo: 0,1 x 0,4 mm, 0,1 x 0,7 mm, 0,1 mm, 0,3 mm, 0,5 mm, 0,7 mm Ø

Sistema di collimatore programmabile a 8 bit 0,05 x 0,05 mm, 0,1 mm x 0,3 mm, 0,05 mm x 0,25 mm, 0,1 mm, 0,2 mm, 0,3 mm, 0,5 mm, Ø 1 mm (accessorio opzionale)

Processore digitale di impulsi

Processore multicanale digitale 4096 CH

Elaborazione automatica del segnale con correzione del tempo morto e funzione di eliminazione dell'accumulo di impulso