Tianjin Gongdong Scienza e Tecnologia Co., Ltd.
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Dispositivo di esperimento elettronico XGS-1
Ottica dell'informazione Fourier
Dettagli del prodotto

Introduzione dello strumento

Il sistema sperimentale ESPI (Electronic Speckle Pattern Interferometry) utilizza modelli di speckle, il vettore di informazioni superficiali ruvide, per studiare l'oggetto fuori dalla deformazione piana. È una moderna tecnologia di misura ottica che combina la tecnologia di elaborazione delle immagini al computer, la tecnologia laser e la tecnologia olografica interferometrica. L'alta coerenza del laser rende evidente il fenomeno dello speckle e la telecamera CCD viene utilizzata per consentire l'elaborazione informatica di dati e immagini. L'interferometria elettronica del modello dello speckle ha una vasta gamma di applicazioni, come la misura della deformazione, la misura non distruttiva, la misura delle vibrazioni, ecc.


Caratteristiche del prodotto

·Struttura semplice, alta precisione, senza contatto, buona sensibilità, elaborazione rapida delle informazioni, nessuna necessità di funzionamento della camera oscura, visualizzazione in tempo reale di tutte le informazioni sul campo



-Configurazione di base e parametri

XGS-1  电子散斑实验装置


Configurazione opzionale

XGS-1  电子散斑实验装置


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