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Strumento di misura dello spessore del rivestimento a fluorescenza a raggi X
Misuratore di spessore di rivestimento fluorescente a raggi X
Dettagli del prodotto

  • L'analisi dello spessore del rivestimento e del materiale basata sulla fluorescenza X è un metodo di analisi ampiamente riconosciuto nel settore, che fornisce un'analisi facile da usare, rapida e senza danni che richiede praticamente nessuna preparazione del campione, in grado di analizzare gli elementi sulla tabella periodica da13Al arriva92campioni solidi o liquidi di U. X-Strata 920 è disponibile in diverse configurazioni per l'analisi di rivestimenti a strato singolo e multistrato (compresi gli strati di lega). Quattro tipi di configurazione del banco di campionamento, rispettivamente il banco standard, la profondità del pozzo, l'allargamento e il controllo del programma, possono analizzare campioni di componenti di qualsiasi forma in base alle esigenze.
    1. La progettazione del magazzino di campioni a scanalatura consente di misurare campioni di grandi pannelli piatti, ad esempio schede stampate con dimensioni più grandi della larghezza dello strumento o piccoli connettori per collegare campioni. Tutti i campioni possono essere posizionati e posizionati facilmente al punto di misura
    2. Dimensioni del campione: 270 x 500 x 150 mm
    3. Rirettificatore: 0,01 mm x 0,25 mm (0,5 x10 mil)
    4. Possibilità di scegliere tra rilevatore-contatore positivo (titanio Ti~-uranio U) o SDD ad alta risoluzione (alluminio Al-uranio U) in base alle esigenze
    5. Può analizzare lo spessore e la composizione della membrana metallica, lo strato di rivestimento elettronico, il rivestimento chimico degli elementi tipici dal numero di serie atomica 22 a 92
    6. Correzione multi-strato multi-elemento conforme alla norma IPC 4556, IPC 4552A
    7. controllo automatico dell'asse Z, Sistema di messa a fuoco automatica sull'asse Z
    8. Filtro secondario al cobalto per correggere con precisione le interferenze reciproche tra rame e nichel, misurazione dello strato di nichel adatto **
    9. Numero di rettificatori: 6
    10. Spessore della pellicola metallica da 0,03 micron (30nm) a 30 um micron, a seconda dei diversi elementi di rivestimento e della struttura di rivestimento
    11. Metodo di base per Hitachi SmartLink FP

    Progetto Descrizione
    Direzione di misurazione
    (direzione dei raggi X)
    Facile messa a fuoco dall'alto verso il basso, anche se la superficie del campione presenta una certa amplitudine o disuguaglianza
    Dimensioni Larghezza x profondità x altezza [mm]: Circa 407 x 770 x 400 mm
    Progettazione del campione Un magazzino di campioni a scanalatura consente di misurare campioni di grandi pannelli piatti, come schede stampate di dimensioni più grandi della larghezza dello strumento o piccoli connettori per campioni di plug-in. Tutti i campioni possono essere facilmente posizionati e posizionati al punto di misurazione. Controllo automatico dell'asse Z (percorso Z: 43 mm)
    Dimensioni interne del magazzino campioni: 236 x 430 x 160 mm (larghezza x profondità x altezza)
    Fonte di raggi X Tubo a raggi bersaglio W
    Generatori ad alta tensione 50 kV, 1,0 mA (50 W) generatore ad alta tensione con regolazione multifila ad alta tensione
    Filtro secondario Filtro secondario di cobalto, utilizzato per correggere con precisione l'interferenza reciproca tra il rame e il nichel, misurazione precisa dello strato di nichel adatto.
    Ispezione del ricevitore a raggi X (rilevatore) Contatore positivo (titanio-uranio-Ti) o SDD ad alta risoluzione (alluminio-uranio-Al)
    Intervalo degli elementi Titanio-uranio o alluminio-uranio (SDD)
    Sistema video CCD a colori, ingrandimento ottico di 30 volte, ingrandimento digitale del 200%, 300% e 400%. Area di analisi del campione
    Visualizzato nell'interfaccia utente, chiaro e facile da usare.
    Sistema di messa a fuoco automatica a asse Z Il laser viene utilizzato per posizionare automaticamente con precisione il tubo/rilevatore a raggi X sull'asse Z fino alla distanza di prova ottimale dal campione misurato.
    Con un solo tasto, la testa di prova dell'asse Z viene spostata in posizione ottimale e l'immagine del campione viene messa a fuoco (visualizzata sullo schermo).
    L'operazione automatica e semplice migliora la riproducibilità dei test dello strumento e riduce l'errore di misurazione umano a basso*.
    Nota: * La distanza di prova ottimale è di 12,7 mm e l'altezza (asse Z) è regolata automaticamente dalla testa di prova a raggi X.
    Rivestimento misurabile
    Intervalo degli elementi
    Titanio 22 all'uranio 92 nella tabella periodica
    Numero di strati di rivestimento misurabili * Possibilità di misurare più di 4 strati contemporaneamente (senza sostegno)
    Gamma di spessore di rivestimento misurabile Di solito tra 0,03 e 30 micron, a seconda dei diversi elementi di rivestimento e della struttura del rivestimento.



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