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Strumento di misura dello spessore del rivestimento a fluorescenza a raggi X FT230
La progettazione dell'analizzatore XRF desktop FT230 riduce notevolmente il tempo di misurazione. Gli ingegneri Hitachi ritengono che l'impostazione d
Dettagli del prodotto
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Ogni parte del FT230 è progettata per un test accurato e riduce notevolmente i tempi di analisi.
- La messa a fuoco automatica riduce i tempi di carico del campione
- Find My Part ™ Identificazione intelligente automatica per impostare un programma di misurazione completo
- La maggior parte dello schermo viene utilizzata per visualizzare la visualizzazione del campione, fornendo visibilità **
- La procedura di autodiagnosi garantisce lo stato e la stabilità dello strumento
- L'integrazione perfetta con altri software consente di esportare facilmente i dati
- Grazie alla nuova interfaccia utente, anche i non professionisti possono usarla in modo intuitivo e conveniente.
- Potente per misurare contemporaneamente quattro strati di rivestimento
- Durabile e lunga durata in ambienti di produzione o di laboratorio collaudati
- Conforme alle norme ASTM B568 e DIN ISO 3497
- Per aiutarti a soddisfare le specifiche ENIG (IPC-4552B), ENEPIG (IPC-4556), Immersion Stain (IPC-4554) e Immersion Silver (IPC-4553A)
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Analisi Dettagli Tubo a raggi X Tubo a raggi X a microfocus di tungsteno (W), irradiato dall'alto verso il basso, * grande 50 kV, 1000 μA, 50 W Rilevatore Grande area ad alta risoluzione 50 mm2 SDD Filtro primario 5 filtri primari (2 film in alluminio, titanio, molibdeno e nichel) + 1 filtro senza filtro Rirettificatore 4 rettificatori, disponibili sia lungo che rotondo, con dimensioni comprese tra 0,01 x 0,25 mm e 1 mm (da 0,5 x 10 mil a 40 mil) Gamma di elementi Alluminio(13)-uranio(92) Numero di strati * più di 5 strati (4 strati più base) Elementi opzionali Libera scelta Compensazione atmosferica Compensazione automatica della temperatura e della pressione Ambiente aria Norme Rivestimento per misurazione fluorescente a raggi X di diffusione energetica conforme alla norma ASTM B568, DIN ISO 3497 Posizionamento del campione Dettagli * Grandi dimensioni del campione 500 x 400 x 150 mm Viaggio del campione 250 x 200 mm Dimensioni del campione 900 x 600 mm - Banco campionamento elettrico, camera campionamento a scanalatura
270 x 210 mm - Tappo di campionamento elettrico, camera di campionamento chiusa
540 x 540 mm - Supporto per campioni fissoVelocità della tavola del campione (configurazione elettrica) 80mm/s Precisione della fase del campione (configurazione elettrica) ≤ 5 μm *Peso del campione grande 10 kg - Supporto per campioni fisso
5 kg - Supporto per campioni elettricoCorsa dell'asse Z 205 mm distanza di lavoro Laser a fuoco nominale da 5 mm
Da 5 a 67 mm - messa a fuoco automatica/avvicinamento automatico (opzionale)Supporto campione - Controllo asse Z Controllo software e joystick a tre vie con pulsante di avvio (opzionale) messa a fuoco 7,1 x 5,3 mm Campo visivo (fotocamera grandangolare, opzionale) 250 x 200 mm Assistenza al posizionamento Posizionamento laser, pre posizionamento laser (configurazione elettrica della fase del campione) software dettagli interfaccia utente FT Connect funzione standard Analisi del rivestimento (FP e analisi empirica), analisi della composizione dei materiali sfusi (FP e analisi empirica), programmazione multipunto, modalità qualitativa, cronologia dei dati, diagnosi, protezione con password ExTOPE cloud link, software di controllo accessi multi-livello Funzione di riconoscimento intelligente Trova le mie parti "(visione della macchina, scansione del codice QR/codice a barre, ricerca del testo)", "Trova la mia modalità "(visione della macchina) lingua Cinese semplificato, cinese tradizionale, ceco, inglese, francese, tedesco, italiano, giapponese, coreano, portoghese, russo, spagnolo Specifiche PC PC a 64 bit Windows 10 Dimensioni e ambiente di lavoro dettagli dimensione 600 x 815 x 745 mm - Camera di campionamento chiusa
900 x 931 x 745 mm - camera di campionamento scanalata, stadio di campionamento elettricoPeso (escluso PC) 140kg intervallo di temperatura 10 - 40 °C Intervallo di umidità * Elevata umidità relativa: 90% (senza condensa) Requisiti di alimentazione elettrica 100-240 V±10%; 47-63 Hz; 1.5 A Torre di segnalazione (opzionale) Indicatore rosso/giallo/verde a tre strati (raggi X aperto/otturatore aperto/strumento acceso) Proprietà tipiche di Au/NiP/Cu Au NiP Intervallo 0,051 - 0,09 μm
(2.00 - 3.55 μin)2,7 - 5,7 μm
(106 - 225 μin)Errore standard 0,025 μm (1 μ in) o 5% di deviazione relativa, a seconda di quale sia maggiore 0,025 μm (1 μ in) o 5% di deviazione relativa, a seconda di quale sia maggiore Precisione a 30 secondi (2 σ), collimatore da 0,3 mm 0,0025 μm @ 0,09 μm
(0.099 μin @ 3.55 μin)0,026 μm @ 5,7 μm,8%P
(1,02 μin @ 225 μin,8%P)Proprietà tipiche di Sn/Ni/Cu Sn Ni Intervallo 2,16 - 9,2 μm
(85 - 362 μin)0,97 - 15,1 μm
(38 - 595 μin)Errore standard 0,025 μm (1 μ in) o 5% di deviazione relativa, a seconda di quale sia maggiore 0,025 μm (1 μ in) o 5% di deviazione relativa, a seconda di quale sia maggiore Precisione a 30 secondi (2 σ), collimatore da 0,3 mm 0,014 μm @ 4,9 μm
(0.55 μin @ 193 μin)0,036 μm @ 4,7 μm
(1.42 μin @ 185 μin)
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