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Misuratore di spessore di rivestimento fluorescente a raggi X FT160
▶ PCB、 Trattamento superficiale specifico per PCB/PWB: La capacità di controllare il processo di trattamento superficiale determina il grado, l'affid
Dettagli del prodotto
  • FT160 è uno strumento per l'analisi dei punti focali micro per dispositivi microelettronici, progettato specificamente per l'analisi dei punti focali micro e dei rivestimenti sottili, e può rispondere alle sfide dell'industria elettronica sempre più miniaturizzata e dei rivestimenti per schede PCB.

    FT160 può fornire:
    1. componenti ottici capillari di messa a fuoco e rivelatore SDD ad alta sensibilità.
    2. Misurazione di campioni inferiori a 50 μm
    3. * * Prestazioni per rispondere alle sfide della tecnologia dei chip a semiconduttore.
    4. Ottenere rapidamente risultati, facile da usare, per migliorare la produttività.
    5. una porta ampia del compartimento del campione e una fase del campione per accelerare la velocità di presentazione del campione.

    6. Un'ampia finestra di osservazione del campione per la prova e il monitoraggio.

  • progetto descrivere
    Direzione di irradiazione a raggi X Tipo di illuminazione superiore
    Elementi di misura Al (13) ~ U(92)
    Materiale bersaglio Tungsteno (W), molibdeno (Mo) bersaglio
    Ambiente di misurazione atmosfera
    Generatore di raggi X 45kV, materiale bersaglio molibdeno Mo
    progettazione Capillario focalizzato sul Policapillare
    corrente del tubo *Fino a 1000 μ A variabile
    Dipartimento di ispezione a raggi X Silicon Drift Detector (SDD)
    Area di misura φ0.030mm(FWHM 0.017mm)
    *Ampia area del campione FT160 lunghezza 400mm x larghezza 300mm x altezza 100mm
    FT160L 600mm x 600mm edizione speciale
    Campo di pilotaggio elettrico della fase del campione XY 400×300mm
    CCD Camera Fotocamera di alta qualità con capacità di zoom 16x
    Modalità messa a fuoco Messa a fuoco automatica laser
    Modalità di misurazione Pellicola sottile FP (5 strati, 10 elementi)/Metodo della linea di misura
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