Caratteristiche del prodotto:

• Angolo di incidente variabile continuo da 30 ° a 80 °

• Profondità incidente 0,4-46 micron, adatta per l'analisi di profondità, come film multistrato e analisi del rivestimento

• Un cristallo di grandi dimensioni da 20 mm è molto adatto per analizzare film monostrato e ultrasottili su wafer di silicio o substrati metallici.Rispetto alla riflessione a specchio, la sensibilità può essere aumentata di 1-2 ordini di grandezza

• Combinazione della cella elettrochimica per la ricerca elettrochimica della spettroscopia infrarossa

• Flusso luminoso estremamente elevato, fornendo la massima qualità spettrale nel più breve tempo di scansione e migliorando i limiti di rilevamento
• Cristalli ZnSe \ \ Ge \ \ Si \ \ ZnS opzionali
• Può essere utilizzato come accessorio di riflessione dello specchio ad angolo variabile
• Posizione riservata del polarizzatore, polarizzatore manuale o automatico opzionale
• Versione automatica opzionale, angolo di incidente regolabile del software

• Disco di cristallo riscaldato, temperatura massima fino a 130 ℃