Dimension Edgemicroscopio a forza atomica

Nuovo membro della famiglia Dimension, scansione a circuito chiuso, estremamente conveniente
Misura veloce, risultati accurati, alta risoluzione dell'immagine
Ampia gamma di prova, adatta per testare qualsiasi campione
Misure avanzate su nanoscala adatte a vari livelli tecnologici

Dimension Edge
Alta economicità, la migliore soluzione per AFM nella grande fase del campione
Dimension ® Edge ™ La microscopia atomica della forza adotta la tecnologia più recente e le sue prestazioni dello strumento, le funzioni di prova e l'operabilità sono al livello più alto tra i prodotti simili. Sulla base dell' icona dimensionale di livello superiore^®Piattaforma, Il design complessivo del sistema Dimension Edge è caratterizzato da bassa deriva e basso rumore, migliorando notevolmente la velocità e l'affidabilità di acquisizione dei dati.Con questo nuovo strumento è possibile ottenere dati professionali di alta qualità e pubblicabili in pochi minuti. Questi miglioramenti nelle prestazioni di rilevamento non hanno influenzato il prezzo dello strumento, che è sicuramente inferiore al budget per tali microscopi atomici a forza ad alte prestazioni. Inoltre, l'integrazione del feedback visivo e le funzionalità opzionali preconfigurate aiutano gli utenti ad ottenere risultati di misurazione di qualità superiore. L'intero set di strumenti è progettato con umanizzazione, adatto agli utenti a tutte le fasi e livelli di ricerca.

Il sistema a circuito chiuso più economicoDimensionserieAFM

Il design brevettato del sensore raggiunge sia la precisione a circuito chiuso che il livello di rumore a circuito aperto.

Riduzione significativa del rumore e della deriva, raggiungendo le prestazioni di imaging di AFM della fase del campione piccolo sul AFM della fase del campione grande.

Il design del microscopio e del circuito garantisce elevate prestazioni di imaging rendendo anche il prezzo accessibile.
Risultati di misura veloci, accurati e ad alta risoluzione

Una nuovissima interfaccia operativa visiva con un design basato sul processo assicura una rapida e semplice impostazione dei parametri per ogni passaggio

Macchina fotografica ad alta risoluzione da 5 megapixel e piattaforma programmabile motorizzata, che fornisce una navigazione veloce del campione e un'efficiente misurazione multipunto

La transizione senza soluzione di continuità dalla scansione su larga scala al rilevamento della massima risoluzione può ottenere risultati accurati in un breve periodo di tempo.

Una soluzione adatta a qualsiasi applicazione su qualsiasi campione
La progettazione della piattaforma aperta può adattarsi alle esigenze di vari esperimenti e campioni.

Il design e il software del nuovo strumento utilizzano la modalità di scansione e la tecnologia di rilevamento più completa Bruke AFM per soddisfare i requisiti applicativi all'avanguardia.

Il modulo di routing del segnale integrato aiuta i ricercatori a personalizzare i modelli di rilevamento in base alle nuove direzioni di ricerca e alle esigenze sperimentali.


Capacità avanzate di misurazione a nanoscala per tutti i livelli di ricerca

Un innovativo design modulare consente prestazioni di misurazione più elevate senza aumentare i costi dello strumento.

L'ultimo software di tipo 8, che condensa più di 10 anni di ricerca e sviluppo professionale di AFM, oltre alla modalità di scansione convenzionale, è dotato di una varietà di modalità alternative in base alle esigenze sperimentali.

Piattaforma di controllo completa per una navigazione intuitiva e un potente controllo di programmazione.
DIMENSIONserieAFMOffre la migliore qualitàAFMprestazioni

Il microscopio di forza atomica Dimension Edge ha prestazioni eccellenti e conserva le numerose innovazioni tecnologiche del sistema Dimension ICON, con un prezzo medio che raggiunge il miglior equilibrio tra le funzionalità dello strumento. La tecnologia più importante è l'innovativa scansione a circuito chiuso Bruker, che combina sensori di posizione a compensazione della temperatura e circuiti modulari di controllo a basso rumore per ridurre il rumore a circuito chiuso fino a una singola lunghezza di legame chimico. Per massimizzare questo vantaggio, lo scanner è fissato su una struttura di ponte robusta con compensazione della deriva. Questa struttura di ponte si basa sul controllo della temperatura FPGA e si stabilizza rapidamente a velocità di deriva estremamente basse. Di conseguenza, il microscopio a forza atomica Dimension Edge combina l'alta produttività, l'alta precisione, la versatilità dei campioni su banche di campioni grandi, l'operazione a anello chiuso e le caratteristiche di immagini ad alta risoluzione precedentemente disponibili solo su banche di campioni piccole e strumenti a anello aperto per ottenere immagini reali di qualsiasi campione per ottenere risultati sperimentali rivoluzionari.

Funzione AFM completa

Dimension Edge include sia una varietà di modalità di scansione convenzionali che tecnologie brevettate da Bruker, ma offre anche soluzioni per una varietà di applicazioni specifiche, come misurazioni elettriche a nanoscala, caratterizzazione dei materiali in ambienti controllati, ecc. Queste funzionalità consentono di ottenere imaging precisi e misurazioni a linea singola puntuale in un'ampia gamma di applicazioni, come la caratterizzazione di dispositivi solari e semiconduttori e l'imaging di materiali polimerici multifase, l'imaging in situ di campioni di scienze della vita da singole molecole a cellule intere e lo studio di singole nanoparticelle.

Caratterizzazione elettrica
Dimension Edge non solo collega una sonda AFM a un amplificatore di corrente a basso rumore, ma sviluppa anche la modalità Dark Lift, che è l'unico metodo per separare chiaramente l'effetto fotoelettrico dalla conducibilità intrinseca del campione nella conduzione dei dati della forza atomica. Si basa sull'applicazione brevettata di Brooke del famoso Lift Mode nei microscopi magnetici ed elettrostatici a forza. Il sistema utilizza queste due prestazioni per garantire test ottimali nelle applicazioni di imaging a potenziale elettrostatico. Finora, il microscopio a capacità di scansione (SCM) combinato con la modalità Dark Lift a circuito chiuso (perdita costante) rimane la soluzione più accurata per caratterizzare la concentrazione di doping. Tuttavia, se i ricercatori vogliono rilevare piccoli cambiamenti di tensione con la massima sensibilità, possono facilmente combinare la modalità di sollevamento con microscopia potenziale superficiale. Il sistema Dimension Edge fornisce una soluzione ideale per qualsiasi applicazione di imaging a potenziale elettrostatico attraverso un approccio a doppia frequenza.