Introduzione dello strumento
La ricerca e l'applicazione di vari film sottili in molte discipline della scienza e della tecnologia moderna stanno diventando sempre più diffuse, quindi la misurazione dello spessore e dei parametri ottici dei film sottili è diventata più urgente e importante. Nel lavoro pratico, l'ellissometria è spesso utilizzata per la misurazione. Questo metodo ha alta sensibilità e precisione nella misura ed è una misura non distruttiva. Può misurare simultaneamente lo spessore e l'indice di rifrazione dei film sottili.
Questo prodotto è uno strumento regolabile manualmente che misura lo spessore e i parametri ottici delle pellicole sottili. Dimostra chiaramente le funzioni strutturali e i metodi di regolazione di ogni componente dello spessore ellissoidale, consentendo agli utenti di avere una comprensione dettagliata del principio e della struttura dell'ellissometro e coltivare la loro capacità operativa pratica.
-Configurazione di base e parametri