Collegare superfici adiacenti per misurare angoli superiori a 90°

La misurazione di superfici complesse con angoli ripidi è molto difficile perché gli effetti di ombra impediscono di ottenere risultati completi di misurazione in una singola acquisizione. È necessario inclinare il campione per misurarlo da due posizioni diverse e combinare i due risultati morfologici per ottenere una misurazione completa.

Gradi di libertà, misurazione senza limiti

Con un programma automatizzato, è possibile misurare diverse parti del campione in un solo clic. L'interfaccia utente facile consente di trovare la posizione di misurazione senza alcun vincolo. Quindi concentrarsi sulle parti chiave del campione e aggiungerlo alla routine di automazione. Infine, fare clic su "Acquista" per ottenere tutti i componenti di misura in un solo clic. È un modo semplice e veloce per automatizzare il processo di misurazione.

Misura precisa e affidabile della lucidità della superficie

La nostra tecnologia di confocazione e interferometria consente di misurare superfici ruvide con qualsiasi livello, dall'estremamente ruvide (diamante classico o specchio). Trasformare i nostri sistemi in sistemi ripetitivi e rintracciabili utilizzando la tecnologia confocale e standard di rugosità numerici elevati secondo NPL, NIST e PTB. La tecnologia di sovrapposizione multi-focale AI consente il raggio del bordo di taglio del sistema.
Fornisce una risposta rapida e semplice alle misurazioni di grandi inclinazioni.

Valutazione senza contatto
S neox ha mantenuto gli obiettivi iniziali di progettazione, superando tutti i profilometri ottici esistenti come profilometro ottico 3D ad alte prestazioni. S neox combina tre tecnologie principali - la confocalità (ideale per superfici ad alta inclinazione), l'interferenza (che fornisce la più alta risoluzione verticale) e la sovrapposizione AI multifocale (che misura le caratteristiche morfologiche in pochi secondi), integrando le tre tecnologie principali nella stessa testa del sensore senza alcun componente mobile.

Specifiche del sistema

Principio di misura: confocalità, PSI, ePS, CS, sovrapposizione superficiale multifocale AI e spessore della membrana

Modalità di osservazione: campo chiaro, colore DIC, confocalità, contrasto di fase di interferenza

Fotocamera: 5Mpx: 2448x2048 pixel (fino a 180fps)

Moltiplicatore di ingrandimento totale: 60X-21600X (monitor da 27 pollici)

Risoluzione del display: 0.001nm

Campo visivo: da 0,113 a 16,8 mm (singolo campo visivo)

Ripetibilità dei gradini: 60,1%

Precisione della scalinata: 60,5%

Gamma di scansione verticale generale: piattaforma lineare: 40 mm; Risoluzione 5nm

Scansione verticale dettagliata: PZT:200pm; Risoluzione 0,5 nm

Rango massimo di misurazione Z: PSI20pm; CS110mm; Co-focalizzazione & Ai sovrapposizione multifocale 34mm

Gamma della piattaforma XY: manuale: 40x40mm; Elettrico: 114x75 mm, 154x154mm, 255x215 mm, 302302mm

Fonte di luce a LED: rosso (630nm); verde (530nm); Blu (460 nm) e bianco (575 nm)

Numero massimo di unità: 10x12 (alta risoluzione); 175x175(500 Mpx)

Piano rotativo dell'obiettivo: campione elettrico a 6 fori

Riflessibilità: da 0,05% al 100%

Peso del campione: fino a 25 kg

Altezza del campione: 40 mm (supporto standard); 150 mm e 350 mm (opzionale)

SENSOFAR è un'azienda tecnologica all'avanguardia che rispetta i più alti standard di qualità nel campo della morfometria
Sensofar Metrology offre profilometri ottici di alta precisione basati su tecnologie confocali, di sovrapposizione multifocale e di interferenza, da sistemi standard per laboratori di ricerca e sviluppo e di controllo della qualità a soluzioni di misurazione complete senza contatto per processi di produzione online. Con sede a Barcellona, il gruppo Sensofar è un centro tecnologico e di innovazione in Europa. Attraverso una rete globale di partner basata su una distribuzione strategica, il Gruppo ha rappresentanze in oltre 30 paesi e uffici in Asia, Germania e Stati Uniti.