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Sistema di prova di degradazione della resistenza dell'isolamento della scheda PCB
Le caratteristiche principali di SIR13/SIR13INI/SIR13SLIMPCB includono la capacità di eseguire tre tipi di test: migrazione ionica
Dettagli del prodotto
PCB板绝缘电阻劣化测试系统

ETAC SIR13/SIR13 mini/SIR13 SLIMSistema di prova di degradazione della resistenza dell'isolamento della scheda PCB

    Caratteristiche principali di SIR13/SIR13 mini


    In grado di condurre tre tipi di test: migrazione ionica, resistenza di isolamento e proprietà di isolamento

    Tutti i canali sono dotati di micro amperometri, che possono eseguire test continui ad alta velocità (40ms/8 canali) delle resistenze

    SIR13/SIR13 mini può catturare con precisione fenomeni di migrazione istantanea degli ioni (dall'occorrenza al completamento)

    250V substrato di prova: 8 canali/1 alimentazione elettrica, massimo 128 canali

    Substrato di prova 500V: 1 canale/1 alimentazione elettrica, massimo 64 canali

    1000V substrato di prova: 1 canale/1 alimentazione elettrica, massimo 64 canali

    Substrato di prova 120V: Ogni canale può essere impostato con le condizioni di prova (tensione di carico, valori di misurazione corrente)

    SIR13/SIR13 mini può impostare arbitrariamente la tensione di carico e la tensione di misura e non ci saranno perdite durante la commutazione.

    SIR13 mini è un piccolo modello che può ospitare fino a 3 schede di prova SMU.

    Specifiche del sistema di prova di degradazione della resistenza dell'isolamento della scheda PCB ETAC AITEC SIR13/SIR13 mini/SIR13 SLIM:


    tensione di carico

    100VPulse/250V/500V/1kV

    Unità ad alta tensione

    1,5kV/3kV/6kV/10kV

    Scheda di misura

    Al massimo 8 pezzi (16ch/piastra), Max128ch)

    Campo massimo di misura della corrente

    Campo di misura e risoluzione

    1) 30mA (risoluzione 1 μ A)

    2) 3.2mA (risoluzione 10nA)

    3) 320 μ A (risoluzione 1nA)

    4) 3,2 μ A (risoluzione 10pA)

    5) 32nA (risoluzione 100fA)

    6) 320pA (risoluzione 1fA)


PCB板绝缘电阻劣化测试系统(图1)


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