Olympus Handheld X-ray Fluorescenza VANTA Handheld Spectrometer-Fornitore globale

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Olympus Handheld X-ray Fluorescenza VANTA Handheld Spectrometer

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Dettagli del prodotto

Se avete bisogno di un analizzatore più robusto per l'identificazione della composizione dei materiali (PMI), Olympus può soddisfare le vostre esigenze grazie alla sua serie Vanta
L'analizzatore ridefinisce le caratteristiche robuste dei dispositivi XRF portatili e questa serie di analizzatori ha prestazioni di durata.

L'analizzatore XRF portatile è diventato uno strumento necessario per evitare questi incidenti attraverso l'identificazione non distruttiva della legaStrumenti,Utilizzato per l'identificazione della composizione dei materiali (PMI)
L'analizzatore XRF portatile Vanta può fornire agli utenti informazioni estremamente precise sulla composizione chimica dei materiali,Così, è possibile distinguere rapidamente e accuratamente tra metalli puri e leghe.
Utilizzando l'analizzatore Vanta, gli ispettori possono determinare rapidamente se l'installazione corretta è stata effettuata in luoghi criticiComponenti in lega

1.Caratteristiche della tracciabilità e della produzione rapida di report

2. Biblioteca a livello di saldatura
3. Elementi residui/impuritàLa configurazione standard dell'analizzatore XRF portatile Vanta per l'identificazione della composizione dei materiali (PMI) è dotata di
Elementi residui (impurità) creati dalle norme

4. Strumenti essenziali per la verifica dei materiali

Dalla semplice verifica della lega all'identificazione precisa della composizione chimica, l'analizzatore XRF portatile Vanta fornisce informazioni estremamente fini sulla composizione chimica dei materiali, consentendo un'analisi rapida e accurata

Distingui rapidamente e accuratamente i gradi di metalli puri e leghe. Questi metalli e leghe sono i seguenti:

• Acciaio inossidabile

Acciaio al cromo molibdeno

Leghe di nichel e leghe di nichel/cobalto

Acciaio a bassa lega

Lega di rame

Lega di alluminio e lega di alluminio forgiata
• Acciaio per utensili

• Lega di zinco

Lega di zirconio

• Lega di titanio

Lega di cobalto

Lega di magnesio

• Lega anormale
光谱仪

serie m

Il nostro analizzatore Vanta è dotato di un rivelatore di deriva del silicio di grande area su ogni analizzatore della serie M e gli utenti possono scegliere tra un materiale bersaglio dell'anodo di tungsteno (W) o un
Tubo a raggi X da 50 kV con materiale bersaglio anodico rodio (Rh).

serie c

L'analizzatore Vanta serie C combina le seguenti caratteristiche di alta qualità: velocità veloce, limite di rilevamento basso (LOD) e una vasta gamma di elementi rilevabili, rendendolo un analizzatore. Ogni serie C
L'analizzatore di colonna è dotato di un rivelatore di deriva del silicio e gli utenti possono scegliere un tubo a raggi X da 40 kV con materiale bersaglio dell'anodo di tungsteno o rodio, o un argento (Ag)
Tubo a raggi X 50 kV con materiale anodico bersaglio.

Olympus

Olympus è un'azienda leader nel campo della tecnologia XRF, rinomata per l'ispezione della qualità e l'accuratezza dei risultati delle analisi. Ci impegniamo a sfruttare la nostra presenza globale

La nostra rete di vendita e il nostro team di assistenza forniscono supporto tecnico e servizio post-vendita ai nostri utenti in termini di prodotti, applicazioni, formazione e tecnologia.
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