Nuovo benchmark per profilometri a sonda - aggiornamento alle prestazioni ottimali

Il scalometro DektakXT (profilometro superficiale a sonda) di Brooke, Germania, è un design innovativo che offre una maggiore ripetibilità e risoluzione. Questo miglioramento delle prestazioni ha raggiunto il culmine dell'innovazione tecnologica di Dektak negli ultimi quarant'anni, rafforzando la sua posizione di leader nel settore. Sia per la ricerca e lo sviluppo che per la misurazione dei prodotti, DektakXT è sicuramente in grado di rendere il processo di rilevamento e l'acquisizione dei dati più potenti, più semplici da usare e più perfetti grazie al suo ampio utilizzo nei lavori di ricerca. La svolta tecnologica della decima generazione di scalometri DektakXT (profilometri superficiali a sonda) consente la misurazione del profilo superficiale su scala nanometrica, che può essere ampiamente utilizzata nella ricerca e nello sviluppo di dispositivi microelettronici, semiconduttori, batterie, diodi luminosi ad alta luminosità e scienza dei materiali.

Test di film sottili per garantire una produttività elevata
Il monitoraggio rigoroso dell'uniformità del rapporto di deposito e incisione nella produzione di semiconduttori, lo stress della pellicola sottile, può risparmiare molto tempo e denaro. Le tensioni non uniformi o troppo elevate della pellicola possono portare a prestazioni inferiori della proprietà e del prodotto finito. DektakXT consente di impostare e eseguire in modo semplice e rapido un programma di test multipunto automatico per verificare lo spessore preciso della pellicola del chip fino al nanolivello. La riproducibilità senza pari di DektakXT offre agli ingegneri test precisi di spessore e di sollecitazione della pellicola per regolare con precisione l'incisione e il deposito per ottenere benefici
Rilevamento della rugosità superficiale per garantire prestazioni
DektakXT è adatto per la verifica di routine della rugosità superficiale di componenti di macchine di precisione in molte industrie, tra cui automobilistica, aeronautica e apparecchiature mediche. Ad esempio, la rugosità del rivestimento idrossofossico sul retro dell'impianto ortopedico influisce sull'adesività e sull'efficacia dopo l'impianto. Utilizzare la capacità di analisi rapida della rugosità superficiale di DektakXT per determinare se la produzione di cristalli soddisfa le aspettative e se l'impianto supera i requisiti del prodotto. Utilizzando lo standard pass/fail del database Vision64, i responsabili della gestione della qualità possono facilmente determinare se un impianto è stato rifatto o garantire la sua qualità.
Analisi della linea di griglia solare: riduzione dei costi di produzione
Nel mercato dell'energia solare, Dektak è la scelta preferita per misurare le dimensioni critiche delle linee di griglia conduttive in argento su pannelli solari in silicio monocristallino e silicio policristallino. L'altezza, la larghezza e la continuità dei fili d'argento sono strettamente correlate alla guida energetica delle celle solari. Lo stato ideale di produzione è quello di utilizzare l'argento in modo appropriato per avere la migliore conducibilità senza sprecare argento costoso. Dektak XT raggiunge questo obiettivo attraverso l'analisi software, riportando le dimensioni critiche delle linee di gate argentate per determinare i componenti precisi necessari per la conduttività. I metodi di analisi dei dati e le funzionalità automatizzate di Vision64 contribuiscono all'automazione del processo di verifica.
Microfluidic Technology - Progettazione e performance di rilevamento
Dektak XT è l'unico profilatore a sonda in grado di misurare materiali fotosensibili con riproducibilità a livello angstrom su un ampio intervallo verticale (fino a 1mm). I ricercatori delle industrie MEMS e della tecnologia microfluidica possono utilizzare Dektak XT per i test di qualificazione per garantire che le parti soddisfino le specifiche. Basso effettoMateriale sensibile Nlite+touch per misurare passi verticali e rugosità
Oltre 40 anni di innovazione continua
Basato su oltre 40 anni di conoscenza ed esperienza nella tecnologia innovativa di profilatura delle sonde, il primo tester a film sottile, il primo profilatore a microprocessore e il primo profilatore automatico da 300mm DektakXT hanno ereditato i precedenti "primi". Il nuovo DektakXT è il primo profilatore di sonda progettato come arco singolo, dotato di una fotocamera ottica a colori ad alta definizione integrata e di un'architettura di elaborazione parallela a 64 bit per misure ed efficienza operativa ottimali
Ci sono oltre 10000 dispositivi in tutto il mondo e il marchio Dektak è rinomato per la sua qualità, affidabilità e alta convenienza. Quando sono necessarie misurazioni precise e affidabili dell'altezza del passo e della rugosità superficiale, le persone si rivolgono a Dektak. L'introduzione di DektakXT e Bruker consente di ottenere misurazioni superficiali affidabili ed efficienti
Migliorare la velocità di raccolta e analisi dei dati
Utilizzando un'unica piattaforma di scansione diretta, Dektak XT riduce il tempo tra le scansioni senza compromettere la risoluzione e il rumore di Pechino. Questo miglioramento migliora notevolmente la velocità di scansione per la scansione su larga scala della morfologia 3D o per la scansione a lungo raggio dello stress superficiale (che di solito richiede tempo per i profilometri della sonda). DektakXT può aumentare la velocità di raccolta e elaborazione dei dati del 40% garantendo al contempo qualità e riproducibilità leader del settore. Inoltre, DektakXT utilizza il software operativo sincrono di acquisizione e analisi dei dati Bruker64 bit Vision64, che può migliorare la velocità di elaborazione di immagini morfologiche 3D su larga scala con volume di dati elevato e può accelerare la velocità di lavoro dei filtri e la scansione multi-modalità per l'analisi dei dati. Vision64 offre anche l'interfaccia utente più efficiente e intuitiva del settore, semplificando le impostazioni operative sperimentali e completando automaticamente più modalità di scansione, rendendo le operazioni sperimentali ripetitive e di routine più veloci e semplici.
Realizzare la riproducibilità delle misurazioni
Il design leader di DektakXT gli offre prestazioni eccellenti nella misura della riproducibilità dell'altezza del passo, che può essere migliore di 4 angstrom. L'uso di una struttura ad arco singolo è più stabile della progettazione originale del fascio a sbalzo, riducendo la sensibilità alle condizioni ambientali avverse come rumore sonoro e vibrazione
Industrie di applicazione: touch screen, semiconduttore, energia solare, diodo ad emissione luminosa ultra-alta luminosità (LED), medicina, scienza dei materiali, università, istituti di ricerca, microelettronica, metalli e altre industrie per raggiungere la misura di morfologia superficiale nanoscala
Il misuratore scala Dektak XT può raggiungere:
Prestazioni impareggiabili, con una riproducibilità dell'altezza del gradino inferiore a 4 angstroms
Il design ad arco singolo fornisce una stabilità di scansione rivoluzionaria
"Dispositivi elettronici intelligenti" avanzati stabiliscono un nuovo parametro di riferimento a basso rumore
La nuova configurazione hardware riduce il tempo di raccolta dati del 40%
64 bit, software di elaborazione dati sincrono Vision64, che aumenta la velocità di analisi dei dati di 10 volte
Frequenza senza precedenti e facilità d'uso
Interfaccia utente intuitiva Vision64, facile da usare
Sistema di taratura automatica della punta dell'ago, valore ineguagliabile
Bruker raggiunge le massime prestazioni con una configurazione conveniente
Design singolo del sensore, che fornisce basso impatto e ampia gamma di scansione su un unico piano
Specifiche:
Tecnologia di misura: Profilometro a sonda DEKTAK XT
Funzione di misura: misurazione 2D del contorno di superficie/misurazione 3D opzionale
Scena del campione: ingrandimento opzionale, FOV da 1 a 4mm
Sensore sonda: Sensore a bassa inerzia (LIS3)
Pressione della sonda: utilizzando il sensore LIS3: da 1 a 15 mg
Gamma opzionale del raggio di curvatura della sonda: da 50 nm a 25 μ m; Punta dell'ago ad alto rapporto di aspetto (HAR): 10 μ m × 2 μ m e 200 μ m × 20 μ m; Punte personalizzate dell'ago secondo i requisiti del cliente
Fase X/Y del campione: traduzione manuale X-Y: 100mm (4 pollici); Traduzione X-Y mobile: 150mm (6 pollici)
Tavola rotante del campione: manuale, 360 ° rotazione; Mobile, rotazione a 360°.
Sistema informatico: processore parallelo multi-core a 64 bit, Windows7； Display piatto opzionale da 23 pollici
Software: software operativo e di analisi Vision64; software di misurazione dello stress; software di cucitura; Software di imaging di scansione 3D
Dispositivo di assorbimento degli urti: il dispositivo di assorbimento degli urti è disponibile
Gamma di lunghezza di scansione: 55mm (2 pollici)
Scansione di punti dati ogni volta: fino a 120000 punti dati
Spessore massimo del campione: 50mm (2 pollici)
Dimensione massima del wafer: 200mm (8 pollici)
Riproducibilità dell'altezza del gradino:<4 angstroms, 1 sigma in un intervallo verticale di 1 μ m)
Tensione di ingresso: 100-240VAC, 50-60Hz
Gamma di temperatura, campo operativo: 20 a 25 ℃
Intervallo di umidità: ≤ 80%, senza condensa
Dimensioni e peso del sistema: 455mmW × 550mmD × 370mmH (17.9in. W × 22.6in.) D×14.5in. H) 34 chilogrammi; Accessori: 550mmL × 585mmW × 445mmH (21.6in. L × 23in.) E×17.5in. H) 21,7 chilogrammi (48 libbre)