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Spettrometro di fluorescenza X a dispersione di energia 4500H
Spettrometro a fluorescenza a raggi X dispersivo di energia 4500H
Dettagli del prodotto
Descrizione del prodotto, parametri tecnici e configurazione
Lo spettrometro fluorescente X EDX 4500H utilizza il principio di rilevamento XRF per un'analisi rapida, accurata e senza danni di una vasta gamma di componenti elementari.
La caratteristica principale dello strumento è l'utilizzo di un sistema di vuoto intelligente, che può avere un buon effetto di eccitazione per elementi leggeri come Si, P, S, Al, Mg e altri, l'utilizzo della tecnologia XRF può effettuare un'analisi precisa degli elementi di alta concentrazione come Cr, Ni, Mo e altri, ha giocato un breve tempo di prova nel controllo del processo di fusione, migliorando notevolmente l'efficienza della rilevazione e l'efficienza del lavoro.
Inoltre, l'analisi delle leghe, l'analisi degli elementi completi, l'applicazione di rilevamento degli elementi nocivi è molto ampia.
Caratteristiche delle prestazioni
Tubo a raggi X per finestre ultrasottili ad alta efficienza, indicatori che raggiungono livelli avanzati internazionali
Le più recenti tecnologie multicanale digitali rendono i test più veloci, contando fino a 100.000 CPS e con maggiore precisione. Migliore effetto nel controllo delle leghe
Rilevatore di deriva di silicio SDD, buona linearità energetica, risoluzione energetica e caratteristiche spettrali energetiche, elevato rapporto di picco
I raggi X a bassa energia stimolano gli elementi da misurare, buon effetto di stimolazione degli elementi leggeri come Si e P
Sistema di pompaggio intelligente per il vuoto che protegge l'impatto dell'aria e estende notevolmente la portata della prova
Dispositivo automatico di stabilizzazione dello spettro garantisce la coerenza del lavoro dello strumento
Unità di circuito elettronico ad alto rapporto segnale-rumore
Commutazione automatica di rettificatori e filtri per campioni diversi per evitare l'ingombrante manipolazione manuale
La tecnica di decomposizione spettrale permette di decomporre i picchi spettrali, rendendo i risultati dei test degli elementi misurati con una precisione analitica pari
Il metodo di regressione lineare multiparametrica permette di sopprimere in modo evidente l'assorbimento e l'effetto di potenziamento tra gli elementi
Telecamera ad alta definizione integrata
Lo schermo LCD consente di visualizzare i parametri importanti dello strumento (pressione del tubo, flusso del tubo, vuoto)
Parametri tecnici
Modello di prodotto: EDX 4500H
Nome del prodotto: Spettrometro fluorescente X
Gamma di elementi di misura: dal sodio (Na) all'uranio (U)
Scopo di analisi del contenuto di elementi: ppm - 99,99% (elementi diversi, intervalli di analisi diversi)
Analisi simultanea degli elementi: decine di elementi misurabili in una volta
Tempo di misurazione: 30-200 secondi
Risoluzione energetica del rilevatore: 145 ± 5eV
Pressione del tubo: 5KV-50KV
Corrente di tubo: 50μA-1000μA
Stato dell'oggetto misurato: polvere, solido, liquido
Tensione di ingresso: AC 110V/220V
Temperatura ambiente: 15 ℃-30 ℃
Umidità ambientale: 35%-70%
Volume della cavità del campione: 320mm x 100mm
Dimensioni: 660mm x 510mm x 350mm
Peso: 65 kg
Configurazione standard
Tubo a raggi X per finestre ultrasottili ad alta efficienza
Rilevatore di deriva di silicio SDD
Tecnologia digitale multicanale
Sistema di miglioramento ottico
Unità di linea elettronica ad alto rapporto segnale-rumore
Telecamera ad alta definizione integrata
Rettificatori e filtri a commutazione automatica
Dispositivo di stabilizzazione automatica dello spettro
Modalità di protezione tripla
Struttura complessiva in acciaio affidabile
Display LCD di stato 90mm x 70mm
Pompa per vuoto
Area di applicazione
Rilevamento delle leghe, analisi integrale, rilevamento degli elementi nocivi (RoHS, alogeni)
La caratteristica principale dello strumento è l'utilizzo di un sistema di vuoto intelligente, che può avere un buon effetto di eccitazione per elementi leggeri come Si, P, S, Al, Mg e altri, l'utilizzo della tecnologia XRF può effettuare un'analisi precisa degli elementi di alta concentrazione come Cr, Ni, Mo e altri, ha giocato un breve tempo di prova nel controllo del processo di fusione, migliorando notevolmente l'efficienza della rilevazione e l'efficienza del lavoro.
Inoltre, l'analisi delle leghe, l'analisi degli elementi completi, l'applicazione di rilevamento degli elementi nocivi è molto ampia.
Caratteristiche delle prestazioni
Tubo a raggi X per finestre ultrasottili ad alta efficienza, indicatori che raggiungono livelli avanzati internazionali
Le più recenti tecnologie multicanale digitali rendono i test più veloci, contando fino a 100.000 CPS e con maggiore precisione. Migliore effetto nel controllo delle leghe
Rilevatore di deriva di silicio SDD, buona linearità energetica, risoluzione energetica e caratteristiche spettrali energetiche, elevato rapporto di picco
I raggi X a bassa energia stimolano gli elementi da misurare, buon effetto di stimolazione degli elementi leggeri come Si e P
Sistema di pompaggio intelligente per il vuoto che protegge l'impatto dell'aria e estende notevolmente la portata della prova
Dispositivo automatico di stabilizzazione dello spettro garantisce la coerenza del lavoro dello strumento
Unità di circuito elettronico ad alto rapporto segnale-rumore
Commutazione automatica di rettificatori e filtri per campioni diversi per evitare l'ingombrante manipolazione manuale
La tecnica di decomposizione spettrale permette di decomporre i picchi spettrali, rendendo i risultati dei test degli elementi misurati con una precisione analitica pari
Il metodo di regressione lineare multiparametrica permette di sopprimere in modo evidente l'assorbimento e l'effetto di potenziamento tra gli elementi
Telecamera ad alta definizione integrata
Lo schermo LCD consente di visualizzare i parametri importanti dello strumento (pressione del tubo, flusso del tubo, vuoto)
Parametri tecnici
Modello di prodotto: EDX 4500H
Nome del prodotto: Spettrometro fluorescente X
Gamma di elementi di misura: dal sodio (Na) all'uranio (U)
Scopo di analisi del contenuto di elementi: ppm - 99,99% (elementi diversi, intervalli di analisi diversi)
Analisi simultanea degli elementi: decine di elementi misurabili in una volta
Tempo di misurazione: 30-200 secondi
Risoluzione energetica del rilevatore: 145 ± 5eV
Pressione del tubo: 5KV-50KV
Corrente di tubo: 50μA-1000μA
Stato dell'oggetto misurato: polvere, solido, liquido
Tensione di ingresso: AC 110V/220V
Temperatura ambiente: 15 ℃-30 ℃
Umidità ambientale: 35%-70%
Volume della cavità del campione: 320mm x 100mm
Dimensioni: 660mm x 510mm x 350mm
Peso: 65 kg
Configurazione standard
Tubo a raggi X per finestre ultrasottili ad alta efficienza
Rilevatore di deriva di silicio SDD
Tecnologia digitale multicanale
Sistema di miglioramento ottico
Unità di linea elettronica ad alto rapporto segnale-rumore
Telecamera ad alta definizione integrata
Rettificatori e filtri a commutazione automatica
Dispositivo di stabilizzazione automatica dello spettro
Modalità di protezione tripla
Struttura complessiva in acciaio affidabile
Display LCD di stato 90mm x 70mm
Pompa per vuoto
Area di applicazione
Rilevamento delle leghe, analisi integrale, rilevamento degli elementi nocivi (RoHS, alogeni)
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