Vantaggi del prodotto:

Caratterizzazione in situ in linea del percorso ottico laterale

Elevata efficienza di raccolta e qualità resistente grazie al design senza fente

Disegno compatto per spazi ristretti nelle stazioni di radiazione sincronizzata

Controllo remoto completamente automatizzato

Opzioni di caratterizzazione aggiuntiveSelezione tecnica

beamLIGHT è la scelta perfetta per la caratterizzazione in situ delle fonti in stazioni di linea a fascio. È integrato uno spettrometro compatto senza fessure (lunghezza 50 cm). Questa architettura migliora notevolmente l'affidabilità delle operazioni quotidiane. beamLIGHT combina la massima efficienza dello spettrometro con una copertura di campo piatto con correzione di differenza e un interruttore automatico del fascio laterale. Il design modulare corrisponde a una varietà di architetture e configurazioni sperimentali. Disponibile in versione standard e ad alto vuoto. Possono essere aggiunte funzioni di diagnostica dei fasci di luce come profilometri di macchie o sensori frontali. Le opzioni del rilevatore includono fotocamere CCD XUV e componenti MCP. Impostazioni di linea di fascio completamente personalizzate e spettrometri online in loco sono accettabili, contattaci per discutere le tue esigenze.

　　Parametri tecnici:

　　Applicazioni tipiche

sorgenti di generazione armonica elevata;

scienza dei secondi;

forte interazione laser-sostanza;

sorgenti di plasma generate da laser e scariche;

caratterizzazione della linea di fascio dell'acceleratore sincronizzato;

laser a elettroni liberi;

laser a raggi X;

Fonte secondaria di azionamento laser