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Spettro di Raman delle forze atomiche
Spettro di Raman delle forze atomiche
Dettagli del prodotto

XploRA Nano Atomic Force Raman Sistema Combinato

Informazioni dettagliate:
Accoppiando l'alta risoluzione spaziale del nanoscale di AFM con la tecnologia della spettroscopia dell'impronta di Raman, le proprietà fisiche e la prova della struttura chimica possono essere raggiunti ad alta risoluzione spaziale.

Caratteristiche del prodotto:
Imaging AFM e Raman nella stessa regione
● Spettroscopia Raman potenziata con punta (TERS)
Collimazione automatica laser a retroazione ottica AFM
● Può fornire percorsi ottici di accoppiamento superiori e laterali e può utilizzare l'obiettivo alto NA X100 per migliorare l'efficienza della raccolta
Testa di scansione ad alta frequenza, insensibile al rumore ambientale
AFM-Configurazione dell'accoppiamento Raman
HORIBA Scientific
La tecnologia Raman può essere utilizzata in combinazione conMicroscopio a sonda di scansione(SPM) Accoppiamento per costruire un sistema potente e flessibileAFM-Piattaforma Raman. I ricercatori possono adattarsi in base alle loro aspettativeAFM-Scegliere lo strumento appropriato in base alla modalità di lavoro Raman.
Tutte le configurazioni dotate di tecnologia di scansione laser possono visualizzare rapidamente la riflessione laser sulla sonda di scansione o hotspot di immagine in base al segnale di dispersione Raman potenziato della punta dell'ago, localizzando così accuratamente e in modo affidabile il laser
SPMSulla punta della sonda.
L'hardware per la raccolta e il rilevamento del segnale ottico ad alto rendimento assicura una scansione veloce mentre raccoglie dati da ogni puntoSPMSpettroscopia del segnale e Raman.
AFM Raman e Tip Enhanced Raman Scattering (TERS)

Integra tutte le tue esigenze in un sistema potente

La soluzione perfetta che forniamo utilizza l'accoppiamento ottico diretto del percorso e lo ottimizza per ottenere un elevato throughput. Questa piattaforma può eseguire microscopia atomica della forza (AFMTecnologia ottica di campo vicino(SNOM,NSOMMicroscopio di scansione a tunnel(STM) Accoppiando spettrometro ottico confocale (Raman e fluorescenza imaging) in uno strumento multifunzionale per ottenere la dispersione Raman migliorata della punta dell'ago (TERSO misurazione comune dei punti.

Combinazione di nanoimaging e analisi chimica

Imaging confocale di AFM e Raman di grafene monostrato, doppio strato e tre strati

● AFME altriSPMLa tecnologia può fornire morfologia, meccanica, energia termica, campo elettromagnetico e proprietà ottiche vicino-campo alla risoluzione a livello molecolare.
La spettroscopia confocale di Raman e l'imaging possono fornire informazioni chimiche dettagliate dei nanomaterials alla risoluzione spaziale sub micron.
La piattaforma unica per la misurazione sincrona consente di ottenere immagini affidabili e altamente sovrapposte.
Combinando alte prestazioni e facilità d'uso,HORIBASarà basato sulla vostra selezioneSPMI produttori forniscono una soluzione affidabile e completamente funzionale
Spettroscopia Raman potenziata con punta dell'ago(TERS)Ottica, meccanica e software sono stati ottimizzati e progettatiHORIBACon decenni di esperienza nella spettroscopia Raman come supporto tecnico, è possibile utilizzare con fiducia questa tecnologia.

Uno strumento con molteplici possibilità: AFM Raman può aiutarti a migliorare l'efficienza

Trova rapidamente oggetti nano
A causa delle proprietà chimiche uniche dei nanomateriali e dei loro forti segnali di picco Raman, i nanomateriali che non sono visibili sotto un microscopio ottico possono essere cercati e localizzati attraverso l'imaging ultra veloce di Raman. Dopo aver trovato il campione, possiamo eseguire analisi morfologiche, meccaniche, elettriche e termiche sul luogo di interesse.

Convalida incrociata dei dati
La spettroscopia Raman può confermare alcune proprietà dei materiali, come il grafene, che ha scarso contrasto nella morfologia AFM ed è difficile da determinare lo spessore dello strato. La spettroscopia Raman può ottenere le stesse informazioni da un'altra prospettiva. Inoltre, la spettroscopia Raman fornisce maggiori informazioni sulla struttura e i difetti, che possono essere forniti solo da AFM con risoluzione atomica.

● Ottenere informazioni chimiche sulle nanostrutture di interesse
A volte ottenere solo proprietà fisiche non è sufficiente quando si caratterizzano nanostrutture. L'imaging confocale Raman ad alta risoluzione può fornire informazioni dettagliate sulla composizione chimica, che altri sensori SPM non possono ottenere.


esplorareTERSCampo (scattering Raman potenziato della punta dell'ago)
TERS(o nano Raman) può combinare i vantaggi di due tecnologie: può raggiungere la risoluzione spaziale a partire da2nm(Generalmente basso a10nm) Imaging spettroscopico Raman specifico chimico. Questa tecnologia può essere utilizzata per caratterizzare la transizione da nanotubes aDNAAspetto vari campioni.


Configurazioni ottiche multipleHORIBAdiAFM-La piattaforma Raman supporta molteplici soluzioni ottiche:


Attacco inferiore: per campioni trasparenti

Attacco superiore: TERS per punte confocali Raman o aghi inclinati

Accoppiamento laterale: la soluzione ottimale per determinare il TERS dei campioni opachi

Può fornire multi porta e configurazione side-by-side

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