XploRA Nano Atomic Force Raman Sistema Combinato
Informazioni dettagliate:
Accoppiando l'alta risoluzione spaziale del nanoscale di AFM con la tecnologia della spettroscopia dell'impronta di Raman, le proprietà fisiche e la prova della struttura chimica possono essere raggiunti ad alta risoluzione spaziale.
Caratteristiche del prodotto:
Imaging AFM e Raman nella stessa regione
● Spettroscopia Raman potenziata con punta (TERS)
Collimazione automatica laser a retroazione ottica AFM
● Può fornire percorsi ottici di accoppiamento superiori e laterali e può utilizzare l'obiettivo alto NA X100 per migliorare l'efficienza della raccolta
Testa di scansione ad alta frequenza, insensibile al rumore ambientale
AFM-Configurazione dell'accoppiamento Raman
HORIBA ScientificLa tecnologia Raman può essere utilizzata in combinazione conMicroscopio a sonda di scansione(SPM) Accoppiamento per costruire un sistema potente e flessibileAFM-Piattaforma Raman. I ricercatori possono adattarsi in base alle loro aspettativeAFM-Scegliere lo strumento appropriato in base alla modalità di lavoro Raman.
Tutte le configurazioni dotate di tecnologia di scansione laser possono visualizzare rapidamente la riflessione laser sulla sonda di scansione o hotspot di immagine in base al segnale di dispersione Raman potenziato della punta dell'ago, localizzando così accuratamente e in modo affidabile il laserSPMSulla punta della sonda.
L'hardware per la raccolta e il rilevamento del segnale ottico ad alto rendimento assicura una scansione veloce mentre raccoglie dati da ogni puntoSPMSpettroscopia del segnale e Raman.
AFM Raman e Tip Enhanced Raman Scattering (TERS)
Integra tutte le tue esigenze in un sistema potente
La soluzione perfetta che forniamo utilizza l'accoppiamento ottico diretto del percorso e lo ottimizza per ottenere un elevato throughput. Questa piattaforma può eseguire microscopia atomica della forza (AFMTecnologia ottica di campo vicino(SNOM,NSOMMicroscopio di scansione a tunnel(STM) Accoppiando spettrometro ottico confocale (Raman e fluorescenza imaging) in uno strumento multifunzionale per ottenere la dispersione Raman migliorata della punta dell'ago (TERSO misurazione comune dei punti.
Combinazione di nanoimaging e analisi chimica
Imaging confocale di AFM e Raman di grafene monostrato, doppio strato e tre strati
● AFME altriSPMLa tecnologia può fornire morfologia, meccanica, energia termica, campo elettromagnetico e proprietà ottiche vicino-campo alla risoluzione a livello molecolare.
●La spettroscopia confocale di Raman e l'imaging possono fornire informazioni chimiche dettagliate dei nanomaterials alla risoluzione spaziale sub micron.
●La piattaforma unica per la misurazione sincrona consente di ottenere immagini affidabili e altamente sovrapposte.
●Combinando alte prestazioni e facilità d'uso,HORIBASarà basato sulla vostra selezioneSPMI produttori forniscono una soluzione affidabile e completamente funzionale
●Spettroscopia Raman potenziata con punta dell'ago(TERS)Ottica, meccanica e software sono stati ottimizzati e progettatiHORIBACon decenni di esperienza nella spettroscopia Raman come supporto tecnico, è possibile utilizzare con fiducia questa tecnologia.
Uno strumento con molteplici possibilità: AFM Raman può aiutarti a migliorare l'efficienza
Trova rapidamente oggetti nano
A causa delle proprietà chimiche uniche dei nanomateriali e dei loro forti segnali di picco Raman, i nanomateriali che non sono visibili sotto un microscopio ottico possono essere cercati e localizzati attraverso l'imaging ultra veloce di Raman. Dopo aver trovato il campione, possiamo eseguire analisi morfologiche, meccaniche, elettriche e termiche sul luogo di interesse.
Convalida incrociata dei dati
La spettroscopia Raman può confermare alcune proprietà dei materiali, come il grafene, che ha scarso contrasto nella morfologia AFM ed è difficile da determinare lo spessore dello strato. La spettroscopia Raman può ottenere le stesse informazioni da un'altra prospettiva. Inoltre, la spettroscopia Raman fornisce maggiori informazioni sulla struttura e i difetti, che possono essere forniti solo da AFM con risoluzione atomica.
● Ottenere informazioni chimiche sulle nanostrutture di interesse
A volte ottenere solo proprietà fisiche non è sufficiente quando si caratterizzano nanostrutture. L'imaging confocale Raman ad alta risoluzione può fornire informazioni dettagliate sulla composizione chimica, che altri sensori SPM non possono ottenere.
● esplorareTERSCampo (scattering Raman potenziato della punta dell'ago)
TERS(o nano Raman) può combinare i vantaggi di due tecnologie: può raggiungere la risoluzione spaziale a partire da2nm(Generalmente basso a10nm) Imaging spettroscopico Raman specifico chimico. Questa tecnologia può essere utilizzata per caratterizzare la transizione da nanotubes aDNAAspetto vari campioni.
Configurazioni ottiche multipleHORIBAdiAFM-La piattaforma Raman supporta molteplici soluzioni ottiche:
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Attacco inferiore: per campioni trasparenti Attacco superiore: TERS per punte confocali Raman o aghi inclinati Accoppiamento laterale: la soluzione ottimale per determinare il TERS dei campioni opachi Può fornire multi porta e configurazione side-by-side |