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Spettrofotometri visibili UV serie 75
Spettrofotometri visibili UV serie 75
Dettagli del prodotto
Introduzione del prodotto
752、754、756PCI prodotti sono adatti per l'analisi quantitativa del contenuto di sostanze nell'area dello spettro UV e visibile, e possono essere ampiamente utilizzati nei laboratori di base di fabbriche, scuole, metallurgia, agricoltura, alimentari, biochimica, protezione dell'ambiente, petrolchimica, sanità e altre unità.
Funzionalità
Lunghezza d'onda automatica, input da tastiera, impostazione di lunghezza d'onda e conversione più veloce.
Test di lettura diretta di concentrazione zero di primo livello(752)
massimo possibile creare12Curva standard per punti di campionamento, adattamento della curva di calibrazione, può essere salvato50Parametri della curva, salvabili200Registro del test.
Gestione dell'orologio del sistema, gestione della luce,USBinterfaccia dati.
Correzione della corrente oscura, correzione della lunghezza d'onda, impostazione della lunghezza d'onda di commutazione della luce.
UV-SolutionSoftware per workstation con varie funzioni di test e scansione(756PC)
Modello 752
Larghezza di banda 4nm
Lunghezza d'onda 200-1000 nm (intervallo di passo 0,1 nm)
Precisione della lunghezza d'onda ± 2,0 nm (calibrazione automatica)
Ripetibilità della lunghezza d'onda 1nm
Intervalo di misurazione T:- 1.0～200.0%T， A：-0.5～3.000Abs，F：0～9999，C：0～9999
Precisione del rapporto di trasmissione ±0,5%T
Ripetibilità del rapporto di trasmissione ±0,2%T
Diffusione di luce ≤0,5% T (a 220nm, 340nm)
Stabilità/deriva di base ±0.003A/h
Display LCD a grande schermo 128 x 64
Dimensioni: 456 * 375 * 220 (mm)
Parametri tecnici generali
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Modello |
752 200-1000nm 4nm |
754 190-1100nm 4nm |
756PC 190-1100nm 2nm |
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Larghezza di banda |
4nm |
4nm |
2nm |
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Intervalo di lunghezza d'onda |
200～1000nm(Intervallo dei passi0.1nm) |
190～1100nm(Intervallo dei passi0.1nm) |
190～1100nm(Intervallo dei passi0.1nm) |
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Precisione della lunghezza d'onda |
±2.0nm(Calibrazione automatica) |
±1.0nm(Calibrazione automatica) |
±1.0nm(Calibrazione automatica) |
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Ripetibilità della lunghezza d'onda |
1nm |
0.5nm |
0.5nm |
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Scopo di misurazione |
T：-1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F：0～9999，C：0～9999 |
T：-1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F：0～9999，C：0～9999 |
T：-1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F：0～9999，C：0～9999 |
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Diffusione di luce |
≤0.5%T(in220nm、340nmlocalità) |
≤0.3%T(in220nm、340nmlocalità) |
≤0.15%T(220nm、340nmlocalità) |
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Stabilità/Drift della linea di base |
± |
± |
± |
|
Linearità di base
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Nessuno |
Nessuno |
± |
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